本文由濟(jì)南賽成電子科技有限公司提供

　　西林瓶無損密封性測(cè)試儀是一種無損檢測(cè)西林瓶密封性能的檢測(cè)設(shè)備。此設(shè)備遵守YY/T 0681.18-2020無菌醫(yī)療器械包裝試驗(yàn)方法第18部分用真空衰減法無損檢驗(yàn)包裝泄漏標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了無損密封性測(cè)試儀的檢測(cè)方法以及注意事項(xiàng)，下面為大家詳細(xì)介紹。

　　YY/T 0681.18-2020標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了，本測(cè)試方法通過測(cè)量內(nèi)含供試包裝的閉合真空測(cè)試腔中的壓升(真空損失)檢測(cè)包裝泄漏。真空損失是供試包裝的頂空氣體泄漏所致，和/或處于所泄漏的或附近的液體內(nèi)裝物揮發(fā)所致。當(dāng)對(duì)句裝中的內(nèi)裝液可能部分或全部侵入泄漏處的包裝測(cè)試時(shí)，測(cè)試腔被抽真空至一個(gè)低于該液體的汽化壓的壓力測(cè)試方法需要一個(gè)含有供試包裝的測(cè)試腔和一個(gè)由一只或多只壓力傳感器設(shè)計(jì)而成的泄漏檢測(cè)系統(tǒng)。

　　將測(cè)試包裝放置在測(cè)試腔內(nèi)施加真空。測(cè)試腔與真空源隔離,壓力傳感器(絕壓或表壓)單獨(dú)使用或與另一個(gè)壓差傳感器組合使用,以監(jiān)測(cè)測(cè)試腔內(nèi)的真空度以及真空隨時(shí)間的變化。真空衰減或測(cè)試腔內(nèi)的壓力上升,是由于包裝頂空的氣體通過任何泄漏從包裝內(nèi)抽出以及背景噪聲所造成的。真空衰減亦會(huì)是包裝內(nèi)部分或進(jìn)入泄漏通道的液體的揮發(fā)所致。對(duì)于這種情況,真空衰減只能在測(cè)試腔內(nèi)測(cè)試壓力低于該液體的汽化壓力時(shí)發(fā)生。

　　西林瓶無損密封性測(cè)試儀器包括一個(gè)連接到真空衰減測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試腔和一個(gè)體積氣流計(jì)。

　　真空衰減測(cè)試系統(tǒng)介紹

　　真空衰減測(cè)試系統(tǒng)由一個(gè)真空源和壓力傳感器組成。真空源用于在測(cè)試周期開始時(shí)在測(cè)試腔內(nèi)建立所需的真空,而一只壓力傳感器(絕壓或表壓)或與另一只壓差傳感器結(jié)合,前者用來監(jiān)測(cè)真空度,后者用來監(jiān)測(cè)在測(cè)試周期內(nèi)壓力隨時(shí)間的變化。預(yù)期使用較高目標(biāo)真空度(如+1 mbar 或不到1 mbar,)的測(cè)試系統(tǒng),宜設(shè)計(jì)成較高的目標(biāo)壓力測(cè)量精度和最小的系統(tǒng)泄漏,氣體外泄可能影響測(cè)試中測(cè)量信噪比。

　　如果您想了解其他內(nèi)容，可隨時(shí)聯(lián)系我們。